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知財研フォーラム
vol. 30

題 名 著者(出席者)
巻頭言 「知的財産権と技術標準の相克について」 水野 幸男 [NEC特別顧問:(財)知的財産研究所 理事]  
基本問題委員会
 産官学の共同研究の現状と今後の課題
若杉 和夫 [石油資源開発(株) 代表取締役社長]
黒川 清 [東海大学 医学部長]
田村 浩一郎 [電子総合研究所 所長]
林 豊 [住友金属工業(株) 常務取締役]
岸 輝雄 [工業技術院 産業技術融合領域研究所 所長:東京大学 先端科学技術研究センター 教授]
吉田 豊麿 [(財)知的財産研究所 専務理事]
2
続々・米国特許クレーム解釈の最近の動向 竹中 俊子 [ワシントン大学ロースクール 知的財産権研究センター エグゼキューティブディレクター:同スクール リサーチアシスタントプロフェッサー] 12
米国における知的財産の最近の動向について ジェラルド J. モッシンホフ [ジョージワシントン大学ロースクール:知的財産権法 客員教授] 24
PCT規則改正作業について(解説) 木村 史郎 [前 WIPO PCT法律部] 36
判決紹介と争点整理
 アルミホイール並行輸入事件最高裁判決
(財)知的財産研究所 研究部 42
ワシントン便り〈第14回〉 木原 美武[(財)知的財産研究所 ワシントン事務所長] 44